EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS（德科特思）混合像素光子计数X射线探测器-EIGER2 X/S系列-DECTRIS光子技术探测器-产品中心-【优纳珂】DECTRIS同步辐射/实验室总代理

新型的EIGE2R X/XE 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的最高计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。

2、核心优势：

- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力

- 千赫帧速率占空比> 99%

- 75μm像素尺寸的高空间分辨率

- 优秀的点扩散函数

- 无读出噪声和暗电流

- 极其紧凑的外壳

3、应用领域：

-X射线光子相关光谱(XPCS)

- Ptychography(叠层衍射)成像技术

- 时间分辨实验

- 大分子晶体学(MX)

- 单晶衍射(SCD)

- 粉末衍射(PD)

- 表面衍射

- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)

- X射线成像

型号	EIGER2 XE 16M	EIGER2 XE 9M	EIGER2 X 16M	EIGER2 X 9M	EIGER2 X 4M	EIGER2 X 1M	EIGER 2 X 500K	EIGER 2 X 2M-W	EIGER 2 X 1M-W
有效面积（宽 x 高） [ mm²]	311.1 × 327.2	233.1 × 244.7	311.1 × 327.2	233.1 × 244.7	155.1 ×162.2	77.1 × 79.7	77.1 × 38.4	311.1 × 38.4	155.1 × 38.4
总像素数量（宽×高）	4148 × 4362	3108 × 3262	4148 × 4362	3108 × 3262	2068 × 2162	1028 × 1062	1028 × 512	4148 × 512	2068× 512
像素大小（μm²）	75×75
间隙宽度（水平/垂直） [像素]	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	- / 38	- / -	12 / -	12 / -
计数速率（最大值） [ph/s/pixel]	10⁷	10⁷	10⁷	10⁷	10⁷	10⁷	10⁷	10⁷	10⁷
能量范围 [KeV]	6 - 40
能量阈值数	2
阈值范围 [KeV]	3.5 - 30
帧速率（最大） [Hz]	550	550	130	230	500	2,000	2,000	1,000	2,000
读出时间	连续读数	连续读数	连续读数	连续读数	连续读数	连续读数	连续读数	连续读数	连续读数
外部门控	是的	是的	是的	是的	是的	是的	是的	是的	是的
计数器深度 [bit]	32	32	32	32	32	32	32	32	32
传感器材料	硅	硅	硅	硅	硅	硅	硅	硅	硅
传感器厚度 [μm]	450	450	450	450	450	450	450	450	450
点扩散函数（pixel）	1	1	1	1	1	1	1	1	1
尺寸（WHD） [mm³]	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	235 x 237 x 372	114 x 133 x 242	114 x 92 x 242	348 x 92 x 277	192 x 92 x 277
重量（kg）	55	41	55	41	15	4.7	3.7	9.7	5.8
冷却方式	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）	水（模块）/空气（电子）

EIGER2 X 500K

EIGER2 X 1M

EIGER2 X 9M

EIGER2 X 16M

EIGER2 XE CdTe 9M

EIGER2 XE CdTe 16M