DECTRIS PILATUS4 光子计数 X 射线探测器拥有大有效成像面积，及每秒高达 4000 帧的频率。 不仅如此，该款探测器还具有 150 微米像素分辨率的大角度覆盖范围，结合高效的直接探测功能，可实现快速测量。根据光子能量范围的不同，您可以选择碲化镉或硅材质传感器，获得出色的量子效率。同时，每帧之间几乎没有计数损失的连续读出，实现了出色的整体探测效率。此外，硅基探测器的可选真空兼容性实现了与长程真空 SAXS 实验装置的理想兼容。 该探测器采用了光子计数技术，使其能够实现高于 10⁷ph/s/pixel 的计数速率，并且与高达 32 位的图像深度（动态范围）匹配。这将使您可以充分利用当代实验线站中不断增加的光子通量。此外，PILATUS4 经过全面校准，不仅提供了四个可调的能量阈值，还具有泵浦-探测实验中的双重门控功能。可靠的 SIMPLON API 控制和数据交互界面支持低延迟数据流传输，使其可轻松集成到各种实验环境中。

PILATUS 4	XE/X 4M	XE/X 2M	X 1M
有效成像面积 (W x H) [mm²]	311.0 x 327.0	233.0 x 244.5	155.0 x 162.0
像素阵列 (W x H)	2,073 x 2,180	1,553 x 1,630	1,033 x 1,080
像素大小 (W x H) [µm²]	150 x 150	150 x 150	150 x 150
读出时间	Continuous readout	Continuous readout	Continuous readout
帧频[1], XE (max.) [Hz]	2,000 (4,000 in 8-bit mode)	2,000 (4,000 in 8-bit mode)	/
帧频[1], X (max.) [Hz]	500 (1,000 in 8-bit mode)	950 (1,900 in 8-bit mode)	2,000 (4,000 in 8-bit mode)
图像位深度 [bits]	32, 16, 8 (depending on the frame rate)	32, 16, 8 (depending on the frame rate)	32, 16, 8 (depending on the frame rate)
传感器材料	Cadmium telluride (CdTe) or Silicon (Si)	Cadmium telluride (CdTe) or Silicon (Si)	Cadmium telluride (CdTe) or Silicon (Si)
传感器厚度 [µm]	1,000 (CdTe), 450 (Si)	1,000 (CdTe), 450 (Si)	1,000 (CdTe), 450 (Si)
能量范围 [keV]	8 - 100 (CdTe), 6 - 40 (Si)	8 - 100 (CdTe), 6 - 40 (Si)	8 - 100 (CdTe), 6 - 40 (Si)
能量阈值数量	4	4	4
计数率 (max.) [ph/s/pixel]	> 107	> 107	> 107
真空兼容可选项	Yes (Si), No (CdTe)	Yes (Si), No (CdTe)	Yes (Si), No (CdTe)
尺寸 (W x H x D) [mm³]	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	235 x 237 x 372
重量 [kg]	55	41	15